Data: Piątek, 7 listopada 2008, 08:33

GeIL wykonuje gruntowne testy pamięci DDR2

GeIL poinformował, że wszystkie obecnie produkowane układy DDR2 podlegają testom w technologii DBT. Die-hard Burn-in to seria rygorystycznych kontroli, mająca na celu przedwczesną eliminację wadliwych modułów.

Do niedawna technologia Die-hard Burn-in obejmowała jedynie moduły DDR2 SO-DIMM oraz układy pamięci dedykowane graczom (Black Dragon i EVO ONE). Aktualnie zakres testów uległ znacznemu rozszerzeniu i technologii DBT podlegają również pamięci DDR2 z serii Value, Ultra oraz moduły dedykowane komputerom Mac.

W specjalnie zaprojektowanej komorze (DBT-1) prowadzone są testy wytrzymałościowe pamięci RAM. Nad 24-godzinnym procesem czuwa oprogramowanie symulujące ekstremalnie trudne warunki pracy. Układy testowane są w temperaturze dochodzącej nawet do 100 st. Celsjusza.

Testy wytrzymałości termicznej częstokroć stosowane są jako forma poświadczenia niezawodności wszelkiego rodzaju elementów elektronicznych. Dotychczas podobne testy wykonywano jedynie dla pamięci serwerowych czy modułów mających zastosowanie w przemyśle zbrojeniowym.